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销售美国.J.A.Woollam的M-2000 光谱型椭偏仪

  • 产品型号:
  • 更新时间:2024-06-18

简要描述:销售美国.J.A.Woollam的M-2000 光谱型椭偏仪

产品详情

销售美国.J.A.Woollam的M-2000 光谱型椭偏仪

无论是科研还是工业生产,M-2000都可以满足您的需求,多样的配置选项满足不同用户的要求。旋转补偿*技术保证Delta的准确测量,CCD列阵的使用使全光谱扫描可在几秒中内完成。

 

可选光谱范围:


V型 370-1000nm
U型 245-1000nm
D型 193-1000nm
红外扩展 1000-1700nm

 

可选变角:

 

手动连续可变

自动连续可变

 


特殊微光斑选件:

 

25×60微米
 

M-2000 光谱型椭偏仪
无论是科研还是工业生产,M-2000都可以满足您的需求,多样的配置选项满足不同用户的要求。旋转补偿*技术保证Delta的准确测量,CCD列阵的使用使全光谱扫描可在几秒中内完成。
Alpha-SE 光谱型椭偏仪
α-SE是一款高性价比的光谱型椭偏仪。简约设计,理想的薄膜分析工具。计算机通过USB口控制仪器、数据采集。配置易用的数据分析软件 易于使用 带有高级选项的按钮式操作 软件技术* 基于旋转补偿*技术 高速测量 十秒内完成180个波长的测量及数据的拟合 功能强 提供厚度、光学常数、表面粗糙、界面层等 各种数据 应用范围 适用于各类可见光谱段薄膜的研究及日常工艺控制
V-VASE 光谱型椭偏仪
V-VASE是一款经典的自动可变角,单色仪分光的光谱椭偏仪。可应用于半导体、电介质、聚合物、金属、等各类薄膜的研究和分析。自动相位延迟技术保证了测量准确性,*的工艺保证了测试重复性。具有灵活多变测试功能的V-VASE可用于各类研究中。
IR-VASE 光谱型椭偏仪
IR-VASE可应用于红外材料光学特性的测量及分析,IR-VASE在半导体上可应用于掺杂浓度的测量。超宽光谱适合各种红外材料,旋转补偿技术保证测试数据的准确性。IR-VASE是红外椭偏仪中的*产品。
VUV-VASE 光谱型椭偏仪
UVV-VASE是一款真空紫外椭偏仪,通常用来测量及研究薄膜的紫外光学特性,如光刻胶等。
T-solar 光谱型椭偏仪
T-Solar是为光伏行业量身定制的一款光谱椭偏仪,无论是硅电池(绒面)还是薄膜电池,都可以用T-Solar来测量。T-Solar基于M-2000,是M-2000的一个特殊配置版。
 

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